EMC高頻測(cè)試桌

     不同材質(zhì)的試驗(yàn)桌產(chǎn)生最大差異的頻率相同，均在 700~900 MHz 之間。   
     由歸一化場(chǎng)衰減的計(jì)算公式可以得出：
     V_R = V_T - AF_T - AF_R - ΔAF_TOT - A_N

     因泡沫的介電常數(shù)接近空氣，比木頭小，所以暗室使用泡沫桌時(shí)測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)與無測(cè)試桌相似；而當(dāng)暗室使用木桌時(shí)，測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)與無測(cè)試桌時(shí)的數(shù)據(jù)存在較大差異。因木桌較大的介電常數(shù)使圖 5 中使用木桌的暗室場(chǎng)地衰減 A_N 偏大， 在AF_T、AF_R、ΔAF_TOT 不變的情況下接收機(jī)測(cè)得的最大測(cè)量電平值 V_R 將減小。
     所以，當(dāng)電波暗室使用木桌或其他較大介電常數(shù)材質(zhì)制作的試驗(yàn)桌等輔助設(shè)施時(shí)，會(huì)使場(chǎng)地衰減AN 增大而導(dǎo)致接收機(jī)測(cè)得的電場(chǎng)強(qiáng)度減小，使測(cè)試結(jié)果造成差異。試驗(yàn)桌等輔助設(shè)備是試驗(yàn)場(chǎng)地有效性中不可分割的一部分，因此建議，在選擇暗室輔助設(shè)施時(shí)選擇介電常數(shù)小的材質(zhì)，并進(jìn)行場(chǎng)地衰減的測(cè)量比較，以保障各暗室測(cè)量結(jié)果的一致性。